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Microscopia de Fuerza Atómica AFM 2017-10-24T22:43:07+00:00
EQUIPOS DE
INVESTIGACIÓN
Microscopía de Fuerza Atómica AFM

Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) traza la topografía de las muestras extremadamente – hasta atómica – resolución mediante el registro de las fuerzas de interacción entre la superficie y una punta afilada montada sobre un voladizo. AFM proporciona información espacial paralela y perpendicular a la superficie. Además de la información topográfica de alta resolución, las propiedades del material de la zona tales como la adhesión y la rigidez pueden ser investigados mediante el análisis de las fuerzas de interacción punta-muestra.

El Microscopio de Fuerza Atómica WITEC integrado en un grado la investigación del microscopio óptico, proporciona acceso óptico superior, la alineación exacta voladiza y encuesta por muestreo de alta resolución. La muestra es escaneada debajo de la punta usando un análisis en fase piezo-conducido y los resultados (por ejemplo, topografía, etc.) se muestran como una imagen.

El modo óptico combinado con un avanzado sistema de cámara de vídeo permite encuesta por muestreo de alta resolución y rápida selección de la zona de intereses. A través de la muestra simultánea y vista AFM-voladizo, la posición de medición se puede identificar y ajustar fácilmente. El uso de técnicas de iluminación y de detección adicionales (por ejemplo, de campo claro, campo oscuro, polarización, fluorescencia, etc.), el usuario puede determinar aún más el punto de interés para la medición AFM. Mediante una simple rotación de la torreta del microscopio, el usuario puede cambiar entre los modos ópticos y AFM forma rápida y precisa, manteniendo la apariencia de la microscopía óptica en el modo de AFM.

Voladiza simultánea y se puede ver la muestra para facilitar la identificación y el ajuste de la posición de medición.

Modo de Fuerza Pulsada Digital

La Fuerza Pulsada Modo Digital (DPFM) es un no resonante, modo de contacto intermitente. Se evita el daño de la superficie que puede resultar de operar en modo de contacto en muestras suaves y proporciona información de la muestra adicional.

Cuando se añade a un sistema de AFM, la DPFM extiende las capacidades del microscopio más allá de la simple medición de la topografía de propiedades tales como rigidez locales, la adhesión, la viscosidad, la disipación de energía, tiempo de contacto, las fuerzas de largo alcance, etc. Esto se puede hacer a velocidades de exploración normales, porque el sistema funciona a velocidades de hasta varios miles de píxeles por segundo.

La electrónica del DPFM incluye un sistema de adquisición de datos de alta velocidad, un generador de modulación libremente programable y un módulo de evaluación de datos en tiempo real. Con el almacenamiento de la medición completa, se lleva a cabo una amplia evaluación de los datos post-procesamiento.

La electrónica DPF

La electrónica DPFM introduce una modulación sinusoidal a la z-piezo del AFM con una amplitud de 10 a 500 nm a una frecuencia seleccionable por el usuario entre 100 Hz y 2 kHz, muy por debajo de la frecuencia de resonancia del voladizo. Un ciclo completo de fuerza-distancia se lleva a cabo en esta tasa de repetición que resulta en la señal de fuerza que se muestra.