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Microscopía Raman Combinado con Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) 2017-07-25T21:43:25+00:00
EQUIPOS DE
INVESTIGACIÓN
Microscopía Raman Combinado con Microscopia de Fuerza Atómica (AFM)

La combinación bien establecida Raman-AFM fue el primer sistema Raman AFM integrado en el mercado y continúa estableciendo el estándar para las configuraciones de instrumentos combinados. La alpha300 RA incorpora las características de la microscopía Raman (sistema alpha300 R) como un potente instrumento para la imagen química junto con la Microscopía de

Fuerza Atómica (alpha300 A) de alta resolución para la caracterización de superficies a escala nanométrica y por lo tanto facilita la comprensión integral de las muestras.

Con la alpha300 RA las dos técnicas de imagen complementarias están disponibles en un único instrumento sin compromiso entre ellas y son controlados por una serie de software para facilitar de uso de imágenes con la más alta calidad y fiabilidad. El cambio entre las técnicas de imagen requiere sólo un giro de la torreta objetivo, con todos los parámetros de imagen que se ajusta automáticamente y el área de la muestra fácilmente fotografiado con ambas técnicas. El software también permite la correlación de los resultados Raman y AFM y la superposición de imágenes sin esfuerzo.

El alpha300 RA es además ideal para las técnicas de imagen combinadas como TERS de alta resolución de imágenes Raman o mediciones Raman-AFM simultáneas.